前 言
JB/T4730.1～4730.6—2005《承压设备无损检测》分为六个部分： ——第1部分：通用要求； ——第2部分：射线检测； ——第3部分：超声检测； ——第4部分：磁粉检测； ——第5部分：渗透检测； ——第6部分：涡流检测。
本部分为JB/T4730.1～4730.6—2005的第1部分：通用要求。本部分主要参照ASME《锅炉压力容器规范》第V卷和JIS标准的有关要求，并结合国内的实际情况制定。本部分与JB 4730—1994相比主要变化如下：
1.扩大了标准的使用范围。
a)规定了射线、超声、磁粉、渗透和涡流检测共五种常规的无损检测方法及质量分级评定； b)适用于金属材料制承压设备无损检测； c)增加了在用承压设备无损检测的技术要求；
d)增加了承压设备支承件和结构件的无损检测技术要求。 2.增加了无损检测方法使用原则的相关规定。
a)根据承压设备材质、制造方法、工作介质、使用条件和失效模式，选择合适的无损检测方法； b)射线和超声检测主要用于检测承压设备内部缺陷；
c)磁粉检测主要用于检测铁磁性材料制承压设备表面和近表面缺陷；涡流检测主要用于检测导电材料制承压设备表面和近表面缺陷；
d)渗透检测用于检测非多孔性金属材料制承压设备表面开口缺陷；
e)在某些特定条件下允许采用声发射、X射线实时成像等新的无损检测方法。
3.增加了对采用新的无损检测方法和新的无损检测设备的具体规定。
a)采用国外新检测方法时，这种方法及其检测范围应是国外承压设备行业所允许使用的；
b)采用国内新研制的检测方法时，应经全国锅炉压力容器标准化技术委员会评审，形成标准案例。 4.增加了无损检测工艺规程的内容(通用工艺规程和工艺卡)。
a)通用工艺规程应遵照或严于现行法规、标准的要求，应针对检验单位的特点和能力； b)无损检测工艺卡应根据相关法规、标准编制，承压设备及零部件的无损检测工作应按无损检测工艺卡进行。
5.增加了对无损检测设备的定期检验要求，规定检测用仪器、设备性能应进行定期检定，检定结果应有记录可查。
本部分的附录A为资料性附录。
本部分由全国锅炉压力容器标准化技术委员会(SAC/TC 262)提出。 本部分由全国锅炉压力容器标准化技术委员会(SAC/TC 262)归口。
本部分主要起草人：寿比南、沈钢、袁榕、强天鹏、康纪黔、何泽云、胡军、杨国义。
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承压设备无损检测 第1部分：通用要求
1 范围
JB/T 4730的本部分规定了射线检测、超声检测、磁粉检测、渗透检测和涡流检测五种无损检测方法的一般要求和使用原则。
本部分适用于在制和在用金属材料制承压设备的无损检测。 2 规范性引用文件
下列文件中的条款，通过JB/T4730的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。
GB/T 12604.1 无损检测术语 超声检测 GB/T 12604.2 无损检测术语 射线检测 GB/T 12604.3 无损检测术语 渗透检测 GB/T 12604.4 无损检测术语 声发射检测 GB/T 12604.5 无损检测术语 磁粉检测 GB/T 12604.6 无损检测术语 涡流检测
GB 17925—1999 气瓶对接焊缝 X射线实时成像检测
GB/T 18182—2000 金属压力容器声发射检测及结果评价方法 GB/T 19293—2003 对接焊缝X射线实时成像检测法
JB/T 4730.2 承压设备无损检测 第2部分：射线检测 JB/T 4730.3 承压设备无损检测 第3部分：超声检测 JB/T 4730.4 承压设备无损检测 第4部分：磁粉检测 JB/T 4730.5 承压设备无损检测 第5部分：渗透检测 JB/T 4730.6 承压设备无损检测 第6部分：涡流检测
国家质量监督检验检疫总局国质锅检字[2003]248号文
特种设备无损检测人员考核与监督管理规则
3 术语和定义
GB/T12604.1～12604.6规定的、以及下列术语和定义适用于JB/T4730的本部分。 3.1
公称厚度T nominal thickness
受检工件名义厚度，不考虑材料制造偏差和加工减薄。 3.2
透照厚度W penetrated thickness
射线照射方向上材料的公称厚度。多层透照时，透照厚度为通过的各层材料公称厚度之和。 3.3
工件至胶片距离b object-to-film distance
沿射线束中心测定的工件受检部位射线源侧表面与胶片之间的距离。 3.4
射线源至工件距离f source-to-object distance
沿射线束中心测定的工件受检部位射线源与受检工件近源侧表面之间的距离。 3.5
焦距F focal distance
沿射线束中心测定的射线源与胶片之间的距离。 3.6
射线源尺寸d source size
2
射线源的有效焦点尺寸。 3.7
管子直径Do external diameter of the pipe 管子的外径。 3.8
圆形缺陷 round flaw
长宽比不大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷。 3.9
条形缺陷 stripy flaw
长宽比大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷。 3.10
透照厚度比K ratio of max. and min. penetrated thickness 一次透照长度范围内射线束穿过母材的最大厚度与最小厚度之比。 3.11
小径管 small diameter tube
外直径Do小于或等于lOOmm的管子。 3.12
底片评定范围 film evaluation scope 本部分规定底片上必须观测和评定的范围。 3.13
缺陷评定区 defect evaluation zone
在质量分级评定时，为评价缺陷数量和密集程度而设置的一定尺寸区域。可以是正方形或长方形。 3.14
超声标准试块 ultrasonic calibration block
JB/T 4730.3规定的用于超声仪器探头系统性能校准和检测校准的试块。 3.15
超声对比试块 ultrasonic reference block 用于超声检测校准的试块。 3.16
密集区缺陷 a cluster of flaws
在荧光屏扫描线相当于50mm声程范围内同时有5个或5个以上的缺陷反射信号；或是在50mm×50mm的检测面上发现在同一深度范围内有5个或5个以上的缺陷反射信号。其反射波幅均大于某一特定当量缺陷基准反射波幅。 3.17
由缺陷引起的底波降低量 BG/BF(dB) loss of back reflection caused by flaws BG/BF(dB)
在靠近缺陷处的无缺陷完好区域内第一次底波幅度BG与缺陷区域内的第一次底波幅度BF之比，用声压级(dB)值来表示。 3.18
基准灵敏度和扫查灵敏度 basic sensitivity and scanning sensitivity
基准灵敏度一般指的是记录灵敏度，它通常用于缺陷的定量和缺陷的等级评定。扫查灵敏度则主要指实际检测灵敏度。 3.19
缺陷自身高度 flaw height(thru-wall dimension)
缺陷在壁厚方向的尺寸。 3.20
聚焦探头 focusing probes
3
采用透镜式、反射式和曲面晶片等聚焦方法使超声波束会聚以提高检测灵敏度的超声探头。 3.21
端点衍射 tip diffraction
超声波在传播过程中，当波阵面通过缺陷时，波阵面会绕缺陷边缘弯曲，并呈圆心展衍，这种现象称之为端点衍射。 3.22
端点最大反射波 maximum tip reflected wave
当缺陷的端部回波的幅度达到最大时(也即缺陷端部回波峰值开始降落前瞬时的幅度位置)，该回波称为缺陷端点最大反射波。 3.23
回波动态波型 echodynamic patterns
动态波型是探头移动距离与相应缺陷反射体回波波幅变化的包络线。 3.24
相关显示 relevant indication
磁粉检测时由缺陷(裂纹、未熔合、气孔、夹渣等)产生的漏磁场吸附磁粉形成的磁痕显示，或渗透检测时由缺陷产生的渗透剂显示，通常称之为相关显示。一般也叫做缺陷显示。 3.25
非相关显示 non-relevant indication
由磁路截面突变以及材料磁导率差异等原因产生的漏磁场吸附磁粉形成的磁痕显示，或是由于加工工艺、零件结构、外形或机械损伤等所引起的渗透剂显示，通称为非相关显示。 3.26
伪显示 false indication
不是由漏磁场吸附磁粉形成的磁痕显示，也叫假显示。 3.27
切线磁场强度 tangential magnetic field strength 平行于被检工件表面的磁场强度分量。 3.28
交叉磁轭 crossed yoke 在同一平面(或曲面)上，由具有一定相位差(不等于0°或180°)而且相互交叉成一定角度(不等于0°或180°)的两相正弦交变磁场相互叠加而在该平面(或曲面)上产生旋转磁场的磁粉检测设备。 3.29
环境可见光 environment visible light
在暗区，黑光照射下从工件表面测得的可见光照度。 3.30
背景 background
渗透检测时，衬托渗透剂显示的工件表面，一般是覆盖显像剂的表面，也可以是自然表面。 3.31
虚假显示 false indication
由于渗透剂污染等所引起的渗透剂显示。 3.32
评定 evaluation
对观察到的渗透相关显示进行分析，确定产生这种显示的原因及其分类过程。 3.33
涡流检测线圈 eddy current coil
涡流检测时，外穿过式线圈、内插式线圈和放置式线圈的统称。 3.34
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