了300开尔文。天线数和DR值被分别绘制在了图9和图10。CSC数据和地面测试数据保持了一致。优先于非线性校正,在辐射计的完整动态范围上的系统天线温度误差可以大到0.7 开尔文。
图9
图 10
B. 校准漂移
两种时变系统效应在长期的全球平均海洋天线噪声温度的分析和一个由二级数据结果记录的天线温度模型是很明显的。存在长期的1 K振幅指数漂移和0.1K振幅的非单调摆动（见图11）。在发布的版本2中的L2数据产品,其效应很大程度上分配到了辐射计硬件，漂移很可能是由在RFE或前端组件之内的变化所引起的。那个时候，摆动的根源是不确定的；然而最近的研究表明它们是由
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VFC锁定引起的。来确定影响的根源的主要的诊断技术是对噪声二极管DR时间序列的分析。
图11
所有六个辐射计通道的长期漂移以指数衰减为特征。指数恰好适用于使用了2014年5月19日的数据来计算的校准模型异常，如图11所示。它们的振幅和时间常数列在表二中并且范围分别为0.9到1.2K和90到110天。通道之间的一致性表明了一些引起漂移的系统原因。注意在海域1 K的天线温度变化相当于大约0.5%的噪声源振幅变化。
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表二
观察的校准漂移参数
如果噪声二极管额外的噪声温度被设置的高于它在校准算法中应该的温度，海域的天线温度校准将会变得太低。换句话说，如果噪声二极管输出随着时间减少，同时在算法中校准系数TN D保持不变，那么海域的校准误差将漂移的更消极。正如图12中所示，这是一个简化了的校准等式的图形版本：
TA = TDL ? TND(CDL ? CA)/(CND ? CDL)
其中Tx 和 Cx是天线和Dicke负载，噪声二极管申明温度并且分别在x = A，
DL和ND时候计数。该效应的一个诊断结论就是内部的天线数噪声二极管偏移
（NDA）的比率高于外部的天线数CND偏移当观测海洋时。六个辐射计通道的NDA / CND比率的时间序列初始化为一致绘制在图13中，并且它们的时间常数被列在了表二最右边的一列。如果CND被假定为有与内部噪声二极管不同的时间常数，然后该时间常数的比率是1/τ = 1/τND ? 1/τCND。规定图11中所示的校准漂移为内部噪声二极管导致CND时间常数范围为55到65天。这个结果 与早期的尝试去使用CND而不是内部噪声二极管来校准辐射计增益保持一致。漂移是被减少的但不能被消除。
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图12
图 13
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