压力容器制造射线,超声波通用工艺规程

2026/1/16 10:42:02

应在射线源一侧不应在胶片侧

图2.3 凸面朝向射线源的曲面部件

不应在射线源一侧应在胶片侧图2.4 射线源到胶片距离F大于曲面工件的曲率半径

QB/GC23—D/0-2012 版次 / 修订号:D/ 0 第 7 页 共 19 页 压力容器制造通用工艺规程 题 目

射线照相检测工艺规程 两种都可以采用的位置标记

图2.5 射线在曲面工件的曲率中心

8.4 像质计的使用

像质计一般应放在工件源侧表面焊接接头的一端(在被检区长度的1/4左右位置),金属丝应横跨焊缝,细丝置于外侧。当一张胶片上同时透照多条焊接接头时,像质计应放置在透照区最边缘的焊缝处。 8.4.1 像质计放置原则

a、单壁透照规定像质计放置在源侧。双壁单影透照规定像质计放置在胶片侧。双壁双影透照规定像质计可放置在源侧,也可放置在胶片侧。

b、单壁透照中,如果像质计无法放置在源侧,允许放置在胶片侧

c、单壁透照中像质计放置在胶片侧时,应进行对比试验。对比试验方法是在射源侧和胶片侧各放一个像质计,用与工件相同的条件透照,测定出像质计放置在源侧和胶片侧的灵敏度差异,以此修正应识别像质计丝号,以保证实际透照的底片灵敏度符合要求。

d、当像质计放置在胶片侧时,应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记,“F”标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上,且应在检测报告中注明。

8.4.2原则上每张底片上都应有像质计的影像。当一次曝光完成多张胶片照相时,使用的像质计数量允许减少但应符合以下要求:

a、环形对接接头采用源置于中心周向曝光时,至少在圆周上等间隔地放置不少于3个像质计;

b、一次曝光连续排列的多张胶片时,至少在第一张、中间一张和最后一张胶片处各放置一个像质计。

8.4.3小径管选用JB/T4730.2-2005附录F规定的专用等径金属丝像质计,金属丝应横跨焊缝放置。

8.4.4如果底片黑度均匀部位(一般是邻近焊缝的母材金属区)能够清晰看到长度不小于10mm的连续金属丝影像时,则认为该丝是可识别的。专用像质计至少应能识别两根金属丝。 8.5辐射防护

8.5.1若在曝光室以内的场所进行X射线检测时,曝光室应进行每年一次的环保检查并持有辐射安全许

压力容器制造通用工艺规程 题 目 QB/GC23—D/0-2012 版次 / 修订号:D / 0 第 8 页 共 19 页 射线照相检测工艺规程 可证,设置警告标志。。检测工作人员应佩带个人剂量计,并携带剂量报警仪。

8.5.2若在曝光室以外的场所进行射线检测时,应按GB18465的规定划定控制区和监督区,设置警告标志。检测作业时应围绕控制区边界测定辐射水平,检测工作人员应佩带个人剂量计,并携带剂量报警仪。 8.6透照布置 8.6.1透照方式的选择

应首先考虑缺陷的检测灵敏度,其次要考虑到工作效率,并应结合现场条件的可能性而选用行之有效的透照方法。在条件许可的情况下,应首先考虑采用周向曝光,其次采用单壁单影法,对于射线源既可以置于容器内,又可置于容器外的情况下,应优先采用内透法(即射线源在工件内)。在工件无法满足上述条件时,方可采用双壁单影透照技术 8.6.2透照方向

透照时射线束中心一般应垂直指向透照中心,需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。

8.6.3一次透照长度

一次透照长度应以透照厚度比K值进行控制,不同级别的射线检测技术和不同类型对接焊接接头的透照厚度比应符合表2的规定,但纵向焊接接头拍片长度一般不超过300mm。

表2允许的透照厚度比K 射线检测技术级别 纵向焊接接头 环向焊接接头 A级、AB级 K≤1.03 K≤1.1 B级 K≤1.01 K≤1.06 对100mm < D0≤400mm的环向对接焊接接头(包括曲率相同的曲面焊接接头)A级、AB级允许采用K≤1.2 8.6.3.1环向对接焊接接头透照次数确定方法,按照图4.1~4.6透照次数曲线图进行选取确定。

8.6.3.2透照次数曲线图

对外径D0>100mm的环向对接焊接接头进行100%检测,所需的最少透照次数与透照方式和透照厚度比有关,这一数值可从图4.1~图4.6中直接查出。

a) 图4.1为源在外单壁透照环向对接焊接接头,透照厚度比K=1.06的透照次数曲线

图;

b) 图4.2为用其他方式(偏心内透法和双壁单影法)透照环向对接焊接接头,透照厚

度比K=1.06的透照次数曲线图;

c) 图4.3为源在外单壁透照环向对接焊接接头,透照厚度比K=1.1的透照次数曲线图; d) 图4.4为用其他方式(偏心内透法和双壁单影法)透照环向对接焊接接头,透照厚

度比K=1.1的透照次数曲线图;

e) 图4.5为源在外单壁透照环向对接焊接接头,透照厚度比K=1.2的透照次数曲线图; f) 图4.6为用其他方式(偏心内透法和双壁单影法)透照环向对接焊接接头,透照厚

度比K=1.2的透照次数曲线图。

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QB/GC23—D/0-2012 版次 / 修订号:D / 0 第 9 页 共 19 页 射线照相检测工艺规程 4N=27N>273.5262532423222.52120219181.5171611514130.5121101000.050.10.150.20.25D0/fTD0T/D0

图4.1 源在外单壁透照环向对接焊接接头,透照厚度比K=1.06的透照次数图

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