图11 ODN 光通道模型
核算公式：
ODN链路衰减=全程光纤衰减+活动连接器衰减+熔接点光纤衰减+光分路器衰减 ODN链路衰减+MC≤系统允许的衰减 全程光纤衰减=全程光纤长度*0.4dB/km 活动连接器衰减=活动连接器个数*0.5dB 光纤熔接点衰减=光纤熔接点个数*0.1dB 光分路器衰减=链路上光分路器衰减总和 MC:光纤富余度 计算时相关参数取值：
光纤衰减取值：1310nm波长时 取0.36dB/km
1490nm波长时 取0.22 dB/km
光纤活动连接器插入损耗取值：0.5dB/个 光纤熔接点衰减取定：
单芯光缆熔接点双向平均值为:0.08dB/个 带状光缆光纤熔接点双向平均取值：0.20dB/个 冷接子双向平均值0.15dB/个 光分路器损耗取值见表：
光纤富余度取值：
当光纤传输距离≤5公里时，光纤富余度不少于1dB; 当光纤传输距离≤10公里时，光纤富余度不少于2dB; 当光纤传输距离﹥10公里时，光纤富余度不少于3dB; 5）光缆线路测试：
? 采用OTDR对每段光链路进行测试。测试时将光分路器从光纤链路中断开，分段
对光纤段长进行测试，测试内容包括光纤衰减和光纤长度，并将测试数据记录在案，作为工程验收的依据。
? 全程衰减测试采用光源、光功率计，对光纤链路的1310nm、1490nm、和1550nm
波长进行测试，包括活动光纤连接器、光分路器和接头的插入损耗。同时将测得数据记录在案，作为工程验收的依据。测试时应注意方向性，既上行方向采用1310nm测试，下行方向采用1490nm和1550nm进行测试。不提供CATV业务时，可以对1550nm不进行测试。
