X射线荧光光谱理论考试题库（填空题）
1．根据探测方法的不同，可将X荧光光谱仪分为 波长色散光谱仪 和 能量色散光谱仪 两大类。
2．布拉格衍射公式为( nλ=2d*sinθ )，式中n为常数，称为 衍射级数 ；λ为 谱线波长 。 3．X射线为波长在 0.1-100埃 之间的电磁波。
4．X射线探测器的主要技术指标 探测效率 、 能量分辨率 。
5．大部分X荧光光谱仪器仪上装有充气正比探测器，所用气体为P10气，即 氩气和甲烷 混合气体，其中甲烷用作 猝灭性气体 。
6．原子受激发产生X射线光子的概率叫 荧光产额 。
7．流气式正比计数器主要用于 重 元素分析，闪烁计数器用于 轻 元素测定。 8．波长色散X射线荧光光谱仪的激发源为 X-光管 。
9．在样品和晶体之间的准直器，其作用是将样品发射出的X射线荧光通过准直器变为 平行光束 照射到晶体，该准直器又称为 入射狭缝 。
10．WDX光谱仪主要组成部分为 光管 、 色散装置 、 入射准直器或入射狭缝、晶体、出射准直器或出射狭缝 和 探测器 。
11．当以经验系数法校正基体效应时，用一系列的 标准样品 进行测量，采用回归方法求取各待测元素的 工作曲线常数 ，元素间效应的 影响系数 和 谱线重叠系数 。
12．土壤样品的处理方法，常取决于试样的 性质 、数量级 、待测元素 及其含量范围、所需的分析精度和 准确度 。
13．X射线管产生的X射线光谱，被称作原级X射线谱，它是由 连续谱 和 特征谱 组成。 14．在矿石分析中，由于同一元素间会以不同的价态、不同的结构、不同的晶体存在。这种微观上的差别无法用机械方法除去，这称为 矿物效应 。
15．用于能量色失散X荧光光谱仪的 Si（Li） 探测器，须在 液 氮 中冷却工作。
16．X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除 基体效应 和 矿物效应 带来的分析误差。
17．X射线波长范围，其短波段与 γ 射线长波段相重叠，其长波段则与 真空紫外 的短波段相重叠。
18．X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步：高能量子与原子发生碰撞，从中驱逐出一个 内层 电子。第二步：由较外层电子补充，同时释放能量，放射出X射线
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荧光 。
19．X射线荧光光谱仪分光方法有平行法和 聚焦 法，分别用平晶和 弯晶 分光。 20．能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同 能量 的特点，将其分开，依靠 半导体 探测器来检测。
21．X射线荧光光谱法基本上是一种 相对 分析法。要求各个试样之间，试样与标样之间，有尽可能一致的 物理 性质和近似的 化学 组成。
22．X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的 组成 、 制样方法 尽可能一致。
23．X射线荧光光谱标准加入法可通过 计算法 、 作图法 求得试样的分析结果。 24．在X射线荧光光谱法分析中，总是以单位时间内单位面积上的X射线光子数表示 强度 。通常以 cps 或 Kcps 为单位表示。
25．X射线荧光光谱分析的基体效应的数学校正一般分为三类，即 基本参数 法、 经验系数 法和 理论影响系数法 。
26．基体效应包括吸收和增强两种效应。消除基体效应的方法有 稀释 法、 薄膜样品 法、 吸收校正 法、 数学处理 方法等。
27．X射线管产生的一次X射线束是 连续谱和特征光谱 ，二次X射线束是 特征光谱 。 28．波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的 衍射 现象使不同波长的X射线分开，以便从中选择被测元素的 特征 谱线进行测定。
29．X射线波长极短，不能像紫外和可见光那样，用 平面光栅 和 棱镜 来分离特征X射线光谱。
30．波长色散X射线荧光光谱仪的流气正比计数器经长时间使用，其芯线-阳极丝要被污染，造成阳极丝的污染有由气体中的 杂质 和淬灭气体甲烷的 分解 造成的等两种情况。
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