主要测试步骤如下：
1：发射机工作于正常的调制模式，频谱仪加以适当的衰减器以便足够显示有用信号； 2：设置发射机保持持续工作，每一个信道都需要测试； 3：设置频谱仪如下：
a) Resolution bandwidth: 1 kHz. b) Video bandwidth: Equal to the RBW. c) Sweep Time: Auto. d) Span: 1 MHz.
e) Trace mode: Max. hold sufficient to capture all emissions. f) Detection mode: Average.
4：待频谱稳定后，记录该频谱，确定其包络在限值内。
五：杂散发射：
定义为除去主频信号的±500KHz内的有用信号外的发射机杂散发射，称之为带外杂散辐射。
该项测试分为两类：
1：有外接天线端口的的产品： a) 使用传导方式进行杂散测试；
b) 使用仿真天线代替进行辐射方式的测试；
2：没有外接天线的，属于内置天线的产品； a) 使用辐射方式进行杂散测试；
杂散发射的测试需要测试工作模式与待机模式，其限值有所不同，如下标所示：
六：传输时间：
定义为发射机持续发射的周期时间，目的是验证是否其在有效的进行发射。通过验证产品的持续发射时间与停止发射的时间，来判断其是否符合标准中的要求。持续发射时间A不能大于4S，发射间隙B不能小于100ms.
主要测试步骤如下：
1：将EUT按照辐射测试布置于暗室，将EUT设置在功率最大的频道； 2：准备数张（通常3张）的典型标签放置在EUT的感应区内；
3：将数字存储示波器的感应探头靠近RFID发射机的天线，以便读取波形； 4：重复多次测量并，记录相应的测试波形；
5：取出最大的发射时间和发射间隙并判断是否符合上述限制要求。
有些应用的产品（如传输装置系统）还有一些特殊要求需要制造商宣告： a)扫描机20s内不读卡，发射机将停止发射； b)需要有一个触发才能进行再次发射；
c)重新触发后的发射需遵守100ms的发射间隙再发射原来同信道的频率。
七：接收机杂散
定义为接收机的杂散发射，包括谐波辐射，寄生辐射以及互调与频率变换，不包括带外辐射。该测试的要求与发射杂散要求一致，测试方法也相同。
其限制值参考如下：
? 2 nW e.r.p. below 1 000 MHz; ? 20 nW e.r.p. above 1 000 MHz.
以上就是对UHF超高频RFID产品的RF射频测试介绍，相信大家都能有所了解，同时在标准中针对标签（Tags）类产品还需要测试标签的辐射功率和杂散。
摩尔实验室（MORLAB）长期致力于跟踪和研究无线技术的最新发展，凭借丰富的测试经验，协助国内无线技术制造企业，使其产品能够符合市场规范和技术发展的要求。在这里我们介绍了超高频 RFID 的测试，如果您需要了解更多RFID产品的信息请与就近的摩尔实验室取得联系。
